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Competenze e Tecnologie

Il Centro di Microscopia Elettronica fornisce competenze tecniche e strumentazioni scientifiche per lo studio delle ultrastrutture, sia nel settore delle scienze della vita che in quello della scienza dei materiali. In particolar modo, il personale attivo presso il Centro presenta una consolidata esperienza in ambito scientifico con particolare riguardo all’utilizzo e all’applicazione di tecniche di microscopia elettronica (a Trasmissione, a Scansione, a Forza Atomica e Microanalisi ai raggi X) occupandosi dell'allestimento dei campioni, dell'osservazione e dell'interpretazione dell'immagine. L’utilizzo del microscopio elettronico permette di raggiungere una risoluzione dell’immagine di parecchi ordini di grandezza superiore rispetto al microscopio ottico rendendo possibile, ad esempio, l’osservazione di sezioni sottili di tessuti ad ingrandimenti tali da consentire lo studio di strutture subcellulari (organuli intracitoplasmatici, citoscheletro, ecc.) e di componenti macromolecolari dello stroma tissutale (collagene, protocollagene, ecc.).

Il Centro di Microscopia Elettronica collabora con Ricercatori dell'Ateneo, Aziende Ospedaliere, Enti Pubblici e privati, Industrie e Professionisti mettendo a disposizione strumentazione scientifica all'avanguardia e personale altamente specializzato per fornire le competenze tecniche specifiche per la preparazione e l'osservazione di campioni in microscopia elettronica e a forza atomica.

Le applicazioni coprono i più diversi campi di interesse in una grande varietà di settori, quali ad esempio: Biologia animale e vegetale, Scienza dei Materiali, Scienze Minero-petrografiche, Chimiche, Geochimiche, Micropaleontologiche, Beni culturali e problematiche ambientali, Scienze mediche e cliniche.

Per svolgere le proprie attività il Centro si avvale delle seguenti tecniche fondamentali:

Microscopia elettronica a scansione (SEM): si possono ottenere informazioni relative alla morfologia o topografia superficiale di aree molto grandi (un mm di lato) fino a dimensioni sub-micrometriche. La microanalisi associata al SEM consente l'dentificazione degli elementi chimici presenti in aree selezionate e in particelle di dimensioni non inferiori al micron. Lo spettrometro a dispersione di energia (EDS) fornisce l'analisi quantitativa anche di elementi con n° atomico inferiore a 10 e le mappe composizionali. Oltre ai materiali conduttivi, si possono osservare, senza deposizione di film metallico necessario per il SEM convenzionale, anche campioni isolanti, ad es. pezzi inglobati in resina, ceramiche, carta, polimeri, polveri ambientali, frammenti vegetali, tessuti di origine animale ed umana fissati e disidratati.

Microscopia elettronica a trasmissione (TEM): è possibile osservare l’ultrastruttura di preparati biologici, la morfologia di nano particelle, identificare zone difettive in materiali cristallini. Si possono osservare sezioni ultrasottili di preparati biologici, polveri, films depositati, frammenti metallici assottigliati.

Microscopia a forza atomica (AFM): si può determinare la topografia superficiale fino a livello nanometrico, le dimensioni dei particolari anche nella direzione verticale al piano del campione (section analysis), la rugosità, lo spettro di Fourier, la presenza di domini magnetici di dimensioni submicrometriche (in MFM) in abbinamento alla topografia dell'area scandita. Si possono osservare principalmente film depositati, metalli, polimeri, materie plastiche, prodotti ceramici, nastri magnetici, preparati istologici essiccati, frammenti vegetali.

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